搜索
| 服務(wù)類別 | 服務(wù)項(xiàng)目 |
| 車規(guī)級芯片驗(yàn)證 | 半導(dǎo)體分立器件AEC-Q101產(chǎn)品測試 |
| 功率模塊AQG 324產(chǎn)品測試 | |
| 光電氣AEC-Q102產(chǎn)品測試 | |
| 阻容感等電器AEC-Q200認(rèn)證測試 | |
| 集成電路AEC-Q100測試 | |
| 多芯片組件(MCM）AEC-Q104測試 | |
| 元器件篩選 | 氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn) |
| 電子元器件破壞性物理分析 | |
| 電子元器件篩選 | |
| 電性能與功能測試 | FAKRA/HAD連接器信號(hào)完整性測試 |
| 功率器件參數(shù)測試 | |
| 汽車音響指標(biāo)測試 | |
| 工藝質(zhì)量評價(jià) | BGA染色測試 |
| PCB/PCBA金相切片測試 | |
| X射線透視測試 | |
| 剪切力拉力測試 | |
| 離子污染度測試 | |
| 錫須檢查 | |
| 車規(guī)級芯片失效分析 | 無損檢測分析 |
| 電性能分析 | |
| 樣品破壞分析 | |
| 精密顯微鏡分析 | |
| 綜合性能分析 | |
| 材料可靠性評價(jià)與產(chǎn)品質(zhì)量提升 | 材料壽命預(yù)估與可靠性 |
| 非金屬失效分析 | |
| 金屬常規(guī)測試 | |
| 金屬失效分析 | |
| 離子色譜測試 |
